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GB/T 16525-2015 半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本标准规定了半导体集成电路塑料有引线片式载体(PLCC)封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。
本标准适用于半导体集成电路塑料有引线片式载体(PLCC)封装引线框架的研制、生产和采购。

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本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值。

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GB/T 17864-1999 关键尺寸(CD)计量方法 现行 发布日期 :  1999-09-13 实施日期 :  2000-06-01

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GB/T 17865-1999 焦深与最佳聚焦的测量规范 现行 发布日期 :  1999-09-13 实施日期 :  2000-06-01

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本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试的方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试。

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GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 现行 发布日期 :  2018-06-07 实施日期 :  2019-01-01

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

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GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) 现行 发布日期 :  1986-07-31 实施日期 :  1987-08-01

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GB/T 7509-1987 半导体集成电路微处理器空白详细规范(可供认证用) 现行 发布日期 :  1987-03-25 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 42835-2023 半导体集成电路 片上系统(SoC) 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2023-12-01

本文件规定了片上系统(SoC)的技术要求、电测试方法和检验规则。
本文件适用于片上系统(SoC)的设计、制造、采购、验收。

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