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【国家标准】 半导体器件　集成电路　第2-9部分：数字集成电路　紫外光擦除电可编程MOS只读存储器　空白详细规范

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适用范围：

暂无

读者对象：

从事半导体器件和集成电路设计、生产、检测的科研技术人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 17574.9-2006

  • 标准名称：

    半导体器件　集成电路　第2-9部分：数字集成电路　紫外光擦除电可编程MOS只读存储器　空白详细规范

  • 英文名称：

    Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-9:Digital integrated circuits—Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2006-12-05

  • 实施日期：

    2007-05-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    26 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    施华莎

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第四十七研究所

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会

  • 提出部门：

    中华人民共和国信息产业部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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