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GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 现行 发布日期 :  1996-07-09 实施日期 :  1997-01-01

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GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。

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GB/T 14112-2015 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本标准规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。本标准适用于双列(DIP)冲制型引线框架。单列冲制型引线框架亦可参照使用。

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GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 现行 发布日期 :  1993-01-21 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 15876-2015 半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本标准规定了半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。
本标准适用于半导体集成电路塑料四面引线扁平封装冲制型引线框架。塑料四面引线扁平封装刻蚀引线框架也可参照使用。

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GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范 现行 发布日期 :  2013-12-31 实施日期 :  2014-08-15

本标准规定了半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求和试验方法及检验规则。
本标准适用于半导体集成电路蚀刻型双列(DIP)封装引线框架(镀金及镀银),单列蚀刻型引线框架亦可参照使用。

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GB/T 15878-2015 半导体集成电路 小外形封装引线框架规范 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本标准规定了半导体集成电路小外形封装(SOP)引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。
本标准适用于半导体集成电路小外形封装冲制型引线框架。

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GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

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GB/T 35004-2018 数字集成电路 输入/输出电气接口 模型规范 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

为了给设备的电气特性分析提供标准,需要考虑以下条目从而使得集成电路的输入信号、输出信号、电源、地端口的电气模型标准化:a)〓在已有标准基础上进行标准化以解决目前存在的问题以及扩大分析能力。b)〓为电子电路定义更多灵活的描述规则,以提供更准确的PCB分析。c)〓引入建模等级概念,为每一个应用提供相关数据。d)〓完善封装和模块的电气模型。

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GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了半导体集成电路电平转换器(以下称为器件)功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。

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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号(LVDS,low voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

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GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路 现行 发布日期 :  2006-10-10 实施日期 :  2007-02-01

本标准规定了下列集成电路(IC)分类体系树(见图1)中有关半定制集成电路子类的标准。 注:这个体系树是不封闭的,可以在需要时拓展。

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