【国家标准】半导体器件　集成电路　第11部分：第1篇：半导体集成电路　内部目检(不包括混合电路)

本网站发布时间： 2019-05-01

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标准简介

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从事集成电路设计、生产、检测的科研技术人员。

标准号：
GB/T 19403.1-2003
标准名称：
半导体器件　集成电路　第11部分：第1篇：半导体集成电路　内部目检(不包括混合电路)
英文名称：
Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态：
现行
发布日期：
2003-11-24
实施日期：
2004-08-01
出版语种：
中文简体

【国家标准】 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)