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GB/T 44021.2-2024 音视频及相关设备 功耗测量 第2部分:测试信号和媒介 即将实施 发布日期 :  2024-04-25 实施日期 :  2024-11-01

本文件规定了音频、视频和相关设备如电视机和计算机显示器的功耗测量时使用的信号,测量峰值亮度比的信号,以及信号发生相关的设备、接口和精确度。本文件适用于音频、视频和相关设备。

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GB/T 44021.3-2024 音视频及相关设备 功耗测量 第3部分:电视机 即将实施 发布日期 :  2024-04-25 实施日期 :  2024-11-01

本文件规定了电视机的功耗测量和相关特性。电视机包括但不仅限于使用LCD、OLED或投影技术的电视机。本文件详细定义了应用于电视机的操作模式和功能。本文件仅限于连接到外部电源的电视机。本文件不涉及包含不可移除主电池的电视机。电视机包含任意数量的辅助电池。本文件中的测量条件代表了设备的正常用法,可能和特定条件下的用法不同,例如,与安全标准中指定的条件下的用法不同。

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GB/T 43537-2023 声系统设备 耳机及个人音乐播放器 最大声压级测量方法 即将实施 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-07-01

本文件描述了消费者使用的耳机及个人音乐播放器产生的最大声压级的测量方法,包括使用耳机的设备或耳机,成套提供的且使用有线或无线等通用接口配接的耳机和个人音乐播放器的组合的测量方法。
本文件适用于消费者使用的耳机及可配接耳机的个人音乐播放器的设计、制造和检验。
本文件不适用于电源供电的高保真家用设备、监听耳机、医疗用途的耳机(听力困难等)或者作为主动听力保护装置的一部分使用的耳机和骨导耳机。
注:其他安全要求例如办公场所或者工业环境的噪声保护不受本文件的影响。

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GB/T 15972的本部分规定了沿光纤纵轴向定量地机械剥去保护涂覆层所需的力的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。
本部分适用于标称包层直径为125 μm且标称外涂覆层(包含紧包缓冲层)直径为的200 μm~900 μm的A1类、A2类、A3类、B类、C类和D类光纤的涂覆层可剥性测量。其他标称包层直径的光纤可参考本部分进行测量。

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GB/T 15972的本部分描述了光纤微分模时延的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。
本部分适用于A1类渐变折射率多模光纤微分模时延的测量。
本部分确定的试验方法一般应用于室内环境,不适合在野外操作。
注: 吉比特以太网系统是以激光器作光源。当此系统使用A1类多模光纤作为传输介质时,以微分模时延的测量结果评价在这种应用条件下多模光纤的带宽性能。

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GB/T 15972的本部分规定了确定光纤样品抗张强度值的试验方法,该方法可测试不同长度的成缆前光纤。本部分的目的是要对光纤的机械特性——抗张强度的测量建立一个统一的技术要求。
本部分适用于A1、A2、A3类多模光纤和B类、C类、D类单模光纤的测量。

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GB/T 15972的本部分规定了测量光纤宏弯损耗的方法概述、装置、试样和试样制备、程序、计算和结果的技术要求。
本部分适用于测量B类单模光纤在1 550 nm或1 625 nm波长的宏弯损耗,A1类多模光纤在850 nm或1 300 nm波长的宏弯损耗,以及A3类和A4类多模光纤在650 nm、850 nm或1 300 nm波长的宏弯损耗。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤特性测量方法和试验程序的通用要求,包括修约规则、测量和试验分类、测量和试验的标准大气条件、校准准则、基准试验方法、光纤分类、试样制备、测量方法和试验程序、包装和标志。本部分适用于A类多模光纤、B类单模光纤以及C类单模光纤和光缆。

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GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法,包括术语、定义和符号,确立了测量方法概述、基准试验方法、装置、试样、程序、计算和结果的统一试验程序和技术要求。
本部分适用于A类多模光纤、B类单模光纤和C类单模光纤。

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GB/T 15972的本部分规定了施加规定张力进行连续长度光纤的筛选试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。
本部分适用于A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤。

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GB/T 15972的本部分给出了测量未涂覆光纤翘曲或固有曲率半径的试验方法,规定了试验装置、样品制备、程序、计算、结果的统一要求。本部分适用于A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤。

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GB/T 15972的本部分规定了多模光纤带宽的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的技术要求。本部分适用于A1、A3、A4类多模光纤带宽的测量。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤数值孔径的试验方法,确立了对试验装置、样品制备、程序、计算和结果的统一要求。本部分适用于A1类﹑A2类、A3类﹑A4类多模光纤和光缆。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤模场直径的试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于B类单模光纤模场直径的测量。

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GB/T 15972的本部分规定了评估光纤和光缆在给定的伽玛辐照环境中性能的测量方法和试验程序。本部分适用于测定成缆或未成缆的A1类、A2类多模光纤和B类单模光纤因暴露在伽玛辐照下产生的辐照感应衰减值。本部分不适用于光缆中非传光构件材料的测量,如果光缆材料暴露在辐照中会发生恶化,则需要进一步研究和寻找其他的测量方法。

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