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本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注: 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
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本标准规定了超声衍射声时检测仪的技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于超声衍射声时检测仪。
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本标准规定了超声衍射声时检测仪的性能测试方法。 本标准适用于超声衍射声时检测仪。
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本标准规定了使用X射线衍射仪,在测试中对样品进行旋转,从而确定晶体材料取向的测试方法。 本标准适用于晶体材料取向的测试。
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本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10-9 m~0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
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