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本标准规定了利用Si(111)晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。
本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其z向放大倍率达到最大量级,即z向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。
本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。

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GB/T 17360-2008 钢中低含量 Si、Mn的电子探针定量分析方法 被代替 发布日期 :  2008-06-16 实施日期 :  2009-03-01

本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法,即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。

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GB/T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法 被代替 发布日期 :  1998-05-08 实施日期 :  1998-12-01

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