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GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件规定了采用电子背散射衍射(electron backscatter diffraction,EBSD)法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。
本文件适用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。
本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奥氏体,奥氏体晶粒尺寸小于50 nm会严重影响定量分析结果的准确性。
注: 晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。

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本标准规定了辉光放电发射光谱法测定材料表层薄膜的厚度、质量(单位面积)和化学成分的方法。本标准仅限于辉光放电发射光谱法深度剖析定量化通用规程的描述,并不能直接应用于具有不同厚度和元素的待测个体材料的定量化。注: 任何一个针对测试材料表面分析的标准均需要明确表层厚度和分析元素,并提供实验室间共同实验结果以确认方法的有效性。

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本标准规定了在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析中相对灵敏度因子的实验测量和使用指南。

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GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法 现行 发布日期 :  2013-07-19 实施日期 :  2014-03-01

本标准规定了电子探针仪(EPMA)和扫描电子显微镜(SEM)的X射线波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。〖HJ*3/5〗
本标准适用于硅酸盐玻璃试样(包括碱金属的硅酸盐玻璃)的波谱法(WDX)和能谱法(EDX)的定量分析。

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本标准采用辉光放电原子发射光谱法用于定量测定钢表面纳米、亚微米尺度薄膜(金属镀膜和氧化膜)中膜厚、镀层质量(单位面积)和薄膜中的元素深度分布。
本方法适用于测定3 nm~1 000 nm厚度的钢表面薄膜,适用的元素包括:铁、铬、镍、铜、钛、锰、铝、碳、磷、氧、氮和硅。

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