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GB/T 5271.17-2010 信息技术 词汇 第17部分:数据库 现行 发布日期 :  2010-12-01 实施日期 :  2011-04-01

GB/T 5271的本部分定义了数据库的各种概念的术语和定义,并明确了这些条目之间的关系。
本部分便于数据库概念的国内及国际间交流。

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GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照 现行 发布日期 :  2018-09-17 实施日期 :  2019-01-01

GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用,是一种破坏性试验。试验目的如下:a)〓检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系;b)〓确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内(见第4章)。

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GB/T 3789.17-1991 发射管电性能测试方法 电气强度的测试方法 被代替 发布日期 :  1991-08-15 实施日期 :  1992-04-01

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本标准规定了GB/T 13000基本多文种平面中CJK统一汉字及其扩充集A和GB 18030汉字强制部分的17×18点阵字型。
本标准还规定了GB/T 13000基本多文种平面之外的196个《通用规范汉字表》中汉字的17×18点阵字型。
本标准适用于各种电子信息技术产品、数字化产品,也可用于其他有关设备。

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本标准规定了GB 13000—2010基本多文种平面中CJK统一汉字及其扩充集A的17×18点阵字型。
本标准适用于各种电子信息产品、数字化产品,也可用于其他有关设备。

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空白详细规范是分规范的一种补充性文件,它包括对详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,认为是不符合电子元件质量评定体系要求的规范。在制定详细规范时,应考虑分规范1.4的内容。

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