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本标准规定了利用Si(111)晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。
本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其z向放大倍率达到最大量级,即z向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。
本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。

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GB/T 17360-2008 钢中低含量 Si、Mn的电子探针定量分析方法 被代替 发布日期 :  2008-06-16 实施日期 :  2009-03-01

本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法,即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。

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GB/T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法 被代替 发布日期 :  1998-05-08 实施日期 :  1998-12-01

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GB/T 8549-1987 Fe-Cr-B-Si系自熔合金粉 废止转行标 发布日期 :  1987-12-30 实施日期 :  1988-12-01

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KS A ISO 1000 국제단위계(SI) 및 그 사용법 现行 发布日期 :  2010-12-31 实施日期 : 

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AS 1340-1975 Symbols for SI units for systems with limited character sets 被代替 发布日期 :  1970-01-01 实施日期 : 

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ASTM SI10-16 IEEE/ASTM SI 10 American National Standard for Metric Practice Active 发布日期 :  1970-01-01 实施日期 : 

This document is the primary American National Standard on application of the metric system. It emphasizes use of the International System of Units (SI), which is the modern, internationally accepted metric system. It includes information on SI, a limited list of units recognized for use with SI, and a list of conversion factors, together with general guidance on style and usage. It also lists older "metric" units that shall no longer be used. The word primary implies that other metric standards in the United States should be consistent with this document.

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Careful use of this practice can yield calibrated z-magnifications traceable to the SI unit of length with uncertainties (k = 2) of approximately 7 % over height ranges of approximately 1 nm.1.1 This practice covers a measurement procedure to calibrate the z-scale of an atomic force microscope using Si(111) monatomic step height specimens.1.2 Applications This procedure is applicable either in ambient or vacuum condition when the atomic force microscope (AFM) is operated at its highest levels of z-magnification, that is, in the nanometer and sub-nanometer ranges of z-displacement. These ranges of measurement are required when the AFM is used to measure the surfaces of semiconductors, optical surfaces, and other high technology components.1.3 The values stated in SI units are to be regarded as the standard. The values given in parentheses are for information only.1.4 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.

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