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GB/T 36923-2018 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法 现行 发布日期 :  2018-12-28 实施日期 :  2019-07-01

本标准规定了应用X射线衍射分析法鉴别珍珠粉的术语和定义、原理、检测方法、结果判定等。
本标准适用于淡水珍珠粉的定性鉴别。

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GB/T 40023-2021 无损检测仪器 超声衍射声时检测仪 技术要求 现行 发布日期 :  2021-04-30 实施日期 :  2022-05-01

本标准规定了超声衍射声时检测仪的技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于超声衍射声时检测仪。

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GB/T 23902-2021 无损检测 超声检测 超声衍射声时技术检测和评价方法 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本文件规定了超声衍射声时技术(TOFD)方法的一般原则。本文件适用于低合金和碳素钢构件中不连续的检测。本文件也适用于其他类型材料,前提是使用超声衍射声时技术时要充分考虑构件的几何形状和材料声学特性及检测灵敏度。本文件一般情况下适用于ISO 16810所包含的材料内的不连续检测,包括焊缝可参考使用。选择此方法的原因在于其明确的超声探头位置和扫查方向。除非在引用文件中另有规定,本文件适用于最低要求。除非另有明确声明,本文件适用于ISO 16811规定的如下等级:--1类,没有限制;--2类和3类,适用指定的限制。

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GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射 现行 发布日期 :  2014-07-08 实施日期 :  2014-12-01

本标准规定了X射线衍射法进行无机化工产品晶型结构分析的术语和定义、方法原理、试剂和材料、仪器、样品制备、测定、仪器实验室条件和安全。
本标准适用于采用衍射仪法对各种无机化工产品的晶型结构进行分析。

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GB/T 21782.13-2009 粉末涂料 第13部分:激光衍射法分析粒度 现行 发布日期 :  2009-06-02 实施日期 :  2010-02-01

本部分是有关色漆,清漆及相关产品取样和试验的系列标准之一。
本部分规定了采用激光衍射法测定粉末涂料等效球体粒径分布的方法。本部分适用于粒度范围在1 μm~300 μm之间的粉末涂料。
本方法仅适用于干粉的测定。

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GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法 现行 发布日期 :  2021-08-20 实施日期 :  2022-03-01

本文件规定了硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法的原理、X射线衍射仪的校准和定量分析程序的确认、测定步骤和报告。

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GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注: 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。

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GB/T 39849-2021 无损检测仪器 超声衍射声时检测仪 性能测试方法 现行 发布日期 :  2021-03-09 实施日期 :  2022-04-01

本标准规定了超声衍射声时检测仪的性能测试方法。
本标准适用于超声衍射声时检测仪。

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GB/T 39860-2021 胶乳制品表面残余矿物粉末的快速鉴别 X-射线衍射 现行 发布日期 :  2021-03-09 实施日期 :  2021-10-01

本标准规定了采用X射线衍射法快速鉴别胶乳制品表面残余矿物粉末的试验方法。本标准适用于避孕套与乳胶手套等胶乳制品表面残余矿物粉末(滑石粉、碳酸钙)的快速鉴别。

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GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 现行 发布日期 :  2009-04-01 实施日期 :  2009-12-01

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

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GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件规定了采用电子背散射衍射(electron backscatter diffraction,EBSD)法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。
本文件适用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。
本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奥氏体,奥氏体晶粒尺寸小于50 nm会严重影响定量分析结果的准确性。
注: 晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。

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本标准规定了用高分辨X射线衍射测量GaAs衬底上AlGaAs外延层中Al含量的试验方法。
本方法适用于在未掺杂GaAs衬底<001>方向上生长的AlGaAs外延层中Al含量的测定,使用本方法测量Al元素含量时,AlGaAs外延层厚度应大于300 nm。

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本文件规定了化工用塑料焊接制承压设备衍射时差法超声检测(以下简称为“TOFD检测”)方法的一般要求、检测设备、检测技术等级、工艺文件及工作程序、检测方法、检测数据分析、缺陷评定和质量分级以及检测记录和报告。本文件适用于以聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚氯乙烯(PVC)等热塑性塑料板材、管材和管件等为原料,采用热熔焊工艺焊接,壁厚为10 mm~70 mm的塑料焊接制承压设备对接接头的TOFD检测。本文件适用于热塑性塑料的热熔焊工艺焊接接头中夹杂物、孔洞、裂纹、熔合面缺陷、冷焊缺陷的检测。本文件不适用于热塑性塑料的热熔焊工艺焊接接头中过焊、熔合面过短、不对中缺陷的检测。

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