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【国家标准】 表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
本网站 发布时间:
2026-01-04
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适用范围:
本文件描述了对材料薄膜进行协助表面分析的方法,这些薄膜不含有碳化合物作为预期成分,但在全扫描谱中观察到C 1s峰。这些薄膜可通过有氧或电化学氧化在金属和合金上生成,也可沉积在惰性基底上的。所述程序不适用于在基底上颗粒的不连续沉积。除此之外,还提供了一个可从含碳的表面污染物中识别C 1s信号的简单程序。当C 1s峰被确定为来自于外来的覆盖层时,从全谱中得出的成分可针对其影响进行校正。建议的程序以“如果-则”格式的简单规则结构形式所提供,目的是让它们所包含的信息可被数据系统中的自动化程序所利用。所提供的规则仅利用从XPS全扫描(谱)中检索的信息。
标准号:
GB/T 45773-2025
标准名称:
表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
英文名称:
Surface chemical analysis—Near real-time information from the X-ray photoelectron spectroscopy survey scan—Rules for identification of,and correction for,surface contamination by carbon-containing compounds标准状态:
现行-
发布日期:
2025-06-30 -
实施日期:
2026-01-01 出版语种:
中文简体
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