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【国家标准】 表面化学分析　电子能谱　X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序

本网站 发布时间： 2026-01-04
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适用范围：

本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)分析中，由X射线辐照导致试样元素组成或化学态的非预期性损伤的识别、评估和校正方法的要求。
本文件仅适用于X射线引起的非预期性损伤，导致光电子谱峰强度的降低或增加小于30%。本文件不涉及不同类型材料之间的比较，也不涉及发生损伤的机制、深度或化学性质。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 45772-2025

  • 标准名称：

    表面化学分析　电子能谱　X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序

  • 英文名称：

    Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Procedures for identifying,estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2025-06-30

  • 实施日期：

    2026-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.40

  • 中标分类号：

    G04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《表面化学分析　电子能谱　X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    24 页

  • 字数：

    31 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    姚文清、段建霞、王舰、杨立平、高星星、高飞、孙敬方、王岩华、徐同广、刘芬、刘浪、华瑞茂、吴正龙、伏晓国

  • 起草单位：

    新疆大学、清华大学、大连大学、南京信息工程大学、南京大学、中国科学院化学研究所、北京师范大学、中国工程物理研究院材料研究所

  • 归口单位：

    全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)

  • 提出部门：

    全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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