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【国家标准】 半导体激光器测试方法

本网站 发布时间： 2015-08-03
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适用范围：

本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。
本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 31359-2015

  • 标准名称：

    半导体激光器测试方法

  • 英文名称：

    Test methods of semiconductor lasers

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2015-02-04

  • 实施日期：

    2015-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.260

  • 中标分类号：

    L51

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    36 页

  • 字数：

    54 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新

  • 起草单位：

    西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所

  • 归口单位：

    全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC 284)

  • 提出部门：

    中国机械工业联合会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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