我的标准 开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

AI 搜
标准详细信息 去购物车结算

【行业标准】 晶片正面系列字母数字标志规范

本网站 发布时间： 2015-05-15
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围：

本标准定义了标记包括字母数字的几何尺寸和空间位置尤其适用于带参考面和带缺口的硅抛光片。
本标准不涉及制作标记的技术。

基本信息

  • 标准号：

    YS/T 986-2014

  • 标准名称：

    晶片正面系列字母数字标志规范

  • 英文名称：

    Specification for serial alphanumeric marking of the front surface of wafers

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2014-10-14

  • 实施日期：

    2015-04-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.045

  • 中标分类号：

    H80

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《晶片正面系列字母数字标志规范》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    20 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    张静、边永智、孙燕、鲁进军、楼春兰、王飞尧、何良恩、张海英

  • 起草单位：

    有研半导体材料股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司、万向硅峰电子股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司

  • 归口单位：

    全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

  • 提出部门：

  • 发布部门：

    中华人民共和国工业和信息化部
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究