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GB/T 30701-2014
表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
现行
发布日期 :
2014-06-09
实施日期 :
2014-12-01
GB/T 30702-2014
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
现行
发布日期 :
2014-06-09
实施日期 :
2014-12-01
GB/T 29556-2013
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
现行
发布日期 :
2013-07-19
实施日期 :
2014-03-01