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GB/T 46280.2-2025 芯粒互联接口规范 第2部分:协议层技术要求 即将实施 发布日期 :  2025-08-19 实施日期 :  2026-03-01

本文件规定了芯粒互联接口的协议层功能要求,对接总线协议的通用传输要求,并规定了对接AXI总线协议、对接HAI协议、对接自定义协议的传输要求及不同协议之间的配置。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。

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GB/T 42706.4-2025 电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分:贮存 即将实施 发布日期 :  2025-10-31 实施日期 :  2026-05-01

本文件描述了电子元器件长期贮存方法,以及相关的推荐条件,包括运输、控制以及贮存设施安全。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件提供了有效进行元器件长期贮存的理念、良好工作习惯和一般方法。

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本文件规定了封装或涂覆元器件长期贮存方法和推荐条件,包括运输、控制以及贮存设施安全。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件提供了有效进行封装或涂覆元器件长期贮存的理念、良好工作习惯和一般方法。

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GB/T 46280.1-2025 芯粒互联接口规范 第1部分:总则 即将实施 发布日期 :  2025-08-19 实施日期 :  2026-03-01

本文件界定了芯粒互联接口的术语和定义、缩略语,规定了芯粒互联接口的分层架构以及各层的基本功能,并确立了互联场景和封装类型。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。

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GB/T 46280.3-2025 芯粒互联接口规范 第3部分:数据链路层技术要求 即将实施 发布日期 :  2025-08-19 实施日期 :  2026-03-01

本文件规定了芯粒互联接口的数据链路层技术要求,包括:传输报文格式、数据错误检测和纠错机制,以及链路状态和功耗管理相关技术要求。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。

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GB/T 46280.4-2025 芯粒互联接口规范 第4部分:基于2D封装的物理层技术要求 即将实施 发布日期 :  2025-08-19 实施日期 :  2026-03-01

本文件规定了芯粒互联接口的基于2D封装的物理层技术要求,包括初始化及训练流程、物理层电气规范、冗余机制、接口物理布局、低功耗控制相关技术要求。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。

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GB/T 46280.5-2025 芯粒互联接口规范 第5部分:基于2.5D封装的物理层技术要求 即将实施 发布日期 :  2025-08-19 实施日期 :  2026-03-01

本文件规定了基于2.5D封装的物理层技术要求,包括初始化及训练流程、物理层电气特性、冗余机制、接口物理布局和低功耗控制相关技术要求。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。

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GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量 现行 发布日期 :  2022-10-12 实施日期 :  2022-10-12

本文件规定了晶圆键合后键合强度的测量方法,适用于硅硅共熔键合、硅玻璃阳极键合等多种晶圆键合方式,以及MEMS工艺、组装流程中相关结构尺寸的键合强度的评估。
本文件适用于从十微米到几毫米厚的晶圆间的键合强度测量。

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GB/T 42706.1-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分:总则 现行 发布日期 :  2023-05-23 实施日期 :  2023-09-01

本文件界定了半导体器件长期贮存的相关术语、定义和原理。长期贮存作为一种延缓淘汰的策略,是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件提供了有效进行元器件长期贮存的理念、良好工作习惯和一般方法。

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GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件描述了微波电路中检波器(以下简称“检波器”)的电参数测试方法。本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试,包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。

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GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件描述了半导体集成电路脉冲宽度调制(PWM)控制器(以下简称器件)参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路领域中PWM控制器参数的测试。

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GB/T 43931-2024 宇航用微波集成电路芯片通用规范 现行 发布日期 :  2024-06-29 实施日期 :  2024-10-01

本文件规定了宇航用微波集成电路芯片的技术要求、质量保证规定和交货准备。本文件适用于宇航用微波集成电路芯片(以下简称“芯片”)的设计、生产和产品质量保证。

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GB/T 43939-2024 宇航用石英挠性加速度计伺服电路通用测试方法 现行 发布日期 :  2024-04-25 实施日期 :  2024-08-01

本文件描述了石英挠性加速度计伺服电路(以下简称“电路”)参数测试方法。本文件适用于石英挠性加速度计伺服电路参数的测试,其他加速度计伺服电路参照使用。

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GB/T 44791-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求 现行 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片的减薄工艺(以下简称减薄工艺)过程和评价要求。
注: 1 in=2.54 cm。

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GB/T 45720-2025 半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验 现行 发布日期 :  2025-05-30 实施日期 :  2025-09-01

本文件描述了半导体器件栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验方法以及TDDB失效的产品寿命时间估算方法。

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