本文件描述了评估近电场、近磁场或近电磁场分量对集成电路(IC)影响的测量方法。本测量方法旨在用于IC的架构分析,例如平面规划和配电优化。本测量方法也可用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC。某些情况下,本测量方法不仅可扫描IC,还可扫描IC的环境。为了对比不同IC的表面扫描抗扰度,宜使用IEC 62132-1规定的标准试验板。
本测量方法提供了IC对其上方的电场或磁场近场骚扰的敏感度(抗扰度)图。测量探头的性能和探头定位系统的精度决定了测量的分辨率。本方法预期使用的最高频率为6 GHz。使用现有探头技术可扩展上限频率范围,但这超出了本文件的范围。本测量方法使用连续波(CW)、幅度调制(AM)或脉冲调制(PM)信号在频域进行。
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