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【国家标准】 集成电路　电磁抗扰度测量　第2部分：辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法

本网站 发布时间： 2024-12-03
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适用范围：

本文件描述了集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。本文件适用的频率范围为150 kHz～1 GHz或为TEM小室和宽带TEM小室的特性决定的频率范围。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 42968.2-2024

  • 标准名称：

    集成电路　电磁抗扰度测量　第2部分：辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法

  • 英文名称：

    Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2:Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2024-10-26

  • 实施日期：

    2024-10-26

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《集成电路　电磁抗扰度测量　第2部分:辐射抗扰度测量　TEM小室和宽带TEM小室法》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    28 页

  • 字数：

    36 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    付君、崔强、黄雪梅、乔彦彬、吴建飞、方文啸、朱赛、亓新、李旸、梁吉明、谢玉章、张红升、熊伟杰、张艳艳、周昕、郑益民、王雪、熊璞、张金玲、麦强、康志能、陈梅双

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院

  • 归口单位：

    全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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