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【国家标准】 元器件位移损伤试验方法

本网站 发布时间： 2024-01-02
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适用范围：

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 42969-2023

  • 标准名称：

    元器件位移损伤试验方法

  • 英文名称：

    Displacement damage test method for components

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    19 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    罗磊 于庆奎 唐民 朱恒静 张洪伟 郑春 陈伟 丁李利 汪朝敏 李豫东 文林 薛玉雄

  • 起草单位：

    中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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