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本文件规定了电容电压法测试硅外延层载流子浓度的方法,包括汞探针电容电压法和无接触电容电压法。 本文件适用于同质硅外延层载流子浓度的测试,测试范围为4×1013 cm-3~8×1016 cm-3,其中硅外延层的厚度大于测试偏压下耗尽层深度的两倍。硅单晶抛光片和同质碳化硅外延片载流子浓度的测试也可以参照本文件进行,其中无接触电容电压法不适用于同质碳化硅外延片载流子浓度的测试。
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本标准规定了电解电容器用铝箔的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单(或合同)内容。本标准适用于电解电容器用中高压阳极箔、低压阳极箔及阴极箔(以下简称铝箔)。
本标准规定了用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的测试方法。 本标准适用于外延层厚度不小于某一最小厚度值(见附录A)相同或相反导电类型衬底上的n型或p型外延层的净载流子浓度测量。本标准也适用于硅抛光片的净载流子浓度测量。
本标准规定了电容器用钽丝的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同(或订货单)内容。 本标准适用于钽和铌电解电容器等用圆形丝材。
本标准规定了硅外延层载流子浓度汞探针电容-电压测量方法。本标准测试的硅外延层的厚度必须大于测试偏压下耗尽层的深度。本标准也可适用于硅抛光片的载流子浓度测量。
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本标准规定了用于制造钽电容器外壳用银铜合金的要求、试验方法、验收准则及标志、包装、运输和贮存、订货单(或合同)内容。 本标准适用于制造钽电容器外壳的银铜合金,包括合金棒、管和带材。
本标准规定了电子、电力电容器用铝箔(以下简称铝箔)的产品要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输、贮存、合同(或订货单)等内容。 本标准适用于电子电容器用铝箔(以下简称电子箔)和电力电容器用铝箔(以下简称电力箔)。
本标准规定了电解电容器用铝箔的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及合同内容。 本标准适用于电解电容器用中高压阳极箔、低压阳极箔及阴极箔。
本标准规定了砷化镓外延层载流子浓度电容电压测量方法,适用于砷化镓外延层基体材料中载流子浓度的测量。测量范围:1×1014 cm-3~5×1017 cm-3。
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