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GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

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GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件规定了宇航用抗辐射加固集成电路单元库(以下简称“加固单元库”)的组成、辐射效应建模与仿真、加固单位库设计、设计套件的设计和验证、加固单元库的验证、加固单元库手册编制等要求。本文件适用于体硅/SOI CMOS工艺的加固单元库设计,以及产品研制前对加固单元库的综合评价。

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GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计。

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GB/T 38345-2019 宇航用半导体集成电路通用设计要求 现行 发布日期 :  2019-12-31 实施日期 :  2020-07-01

本标准规定了宇航用半导体集成电路的通用设计要求,包括结构设计、逻辑和电路设计、版图设计、封装设计、可靠性设计和可测性设计等要求。本标准适用于宇航用半导体集成电路设计要求,不适用于特殊电路设计要求。

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GB/T 37312的本部分定义了航空航天、国防及其他高性能应用领域(ADHP)中通用商用货架产品(COTS)集成电路与分立半导体器件的最低要求。
本部分适用于ADHP应用中在公开数据手册规定的额定参数范围内正常工作、并符合IEC TS 62239-1(ECMP)标准的所有器件。本部分也可适用于其他行业采用的高可靠、高性能器件,但需要甄别使用。
除了符合本部分外,还需依据相应的ECMP程序文件,改进设计产品或进一步开展试验以验证其满足ADHP应用要求的适宜性。另外符合IEC TS 62564-1标准的器件也可能更加满足ADHP应用要求。

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