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本标准规定了透射电子显微镜X射线能谱仪定量分析生物薄试样的技术要求和规范。 本标准适用于生物薄试样所含非超轻元素的透射电子显微镜X射线能谱定量分析。
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本标准规定了透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。 本标准适用于生物薄标样的透射电子显微镜X射线能谱分析。
本标准描述了光学共焦显微镜在宏观或微观三维表面形状测量中的计量特性,并规定了测量不确定度评定的横向和轴向测量结果的示值读取方法。本标准适用于工业测量光学共焦显微镜。
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本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。 本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量,测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100 nm,其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。
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本文件描述了用透射电子显微镜测试Ⅲ族氮化物半导体材料中位错成像的方法。本文件适用于六方晶系Ⅲ族氮化物半导体的薄膜或体单晶中位错成像的测试。
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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GB/T 2679的本部分规定了用电子显微镜/X射线能谱仪定性分析纸和纸板中无机填料和无机涂料的方法。 本部分适用于纸和纸板中无机填料、涂料的品种鉴定和成分分析,也适用于造纸用无机填料、涂料的原材料分析。
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程,在ISO 22309[2]和 ASTM E1508[3]中已有规范,不在本标准范围之内。
本标准规定了用扫描电子显微镜及能谱仪对沉积岩自生粘土矿物的晶体形态及化学成分进行鉴定的方法。 本标准主要用于石油、天然气沉积岩中常见自生粘土矿物鉴定分析。其他自生粘土矿物鉴定分析可参照执行。
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本文件规定了塑封电子元器件进行声学显微镜检查的程序。本文件提供了一种使用声学显微镜对塑料封装进行缺陷(分层、裂纹、模塑料空洞等)检查的方法,本方法具有可重复性,是非破坏性试验。
GB/T 19267的本部分规定了扫描电子显微镜和与X射线能谱仪联用的检验方法。 本部分适用于刑事技术领域中的微量物证的理化检验,其他领域亦可参照使用。
本文件规定了硬质合金中孔隙度、非化合碳缺陷和脱碳相的金相测定方法,包括存在、类型以及分布。
本标准规定用毛细管法和偏光显微镜法测定部分结晶聚合物的熔融行为的方法。 方法A(毛细管法)适用于所有部分结晶聚合物及它们的配混物。 方法B(偏光显微镜法)适用于有双折射结晶相的聚合物。因为会影响聚合物结晶区的双折射,所以不适用于含有颜料和/或填加剂的配混物。
本标准规定了利用SEM和EDX分析单壁碳纳米管粗产品及纯化后粉末或薄膜产品的形态、元素组成、催化剂和其他无机杂质的测试方法。 本标准适用于单壁碳纳米管的特性分析,亦可用于多壁碳纳米管(multiwall carbon nanotubes,简称MWCNTs)的特性分析。
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