【国家标准】微束分析　电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法

本网站发布时间： 2016-09-02

GB/T 20726-2015
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309［2］和 ASTM E1508［3］中已有规范，不在本标准范围之内。

基本信息

标准号：
GB/T 20726-2015
标准名称：
微束分析　电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
英文名称：
Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
标准状态：
现行
发布日期：
2015-10-09
实施日期：
2016-09-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.99
中标分类号：
G04

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《微束分析　电子探针显微分析(EPMA)　术语》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
16 页
字数：
22 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光
起草单位：
中国科学院地质与地球物理研究所
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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