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【国家标准】 表面化学分析　俄歇电子能谱和X射线光电子能谱　测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

本网站 发布时间： 2024-10-08
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适用范围：

本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。

读者对象：

微束分析、 冶金、化工行业及相关行业中的科研、技术、检验及相关人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 28893-2012

  • 标准名称：

    表面化学分析　俄歇电子能谱和X射线光电子能谱　测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

  • 英文名称：

    Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    2012-11-05

  • 实施日期：

    2013-06-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.40

  • 中标分类号：

    G04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《表面化学分析　俄歇电子能谱和X射线光电子能谱　测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    24 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    王水菊、时海燕、岑丹霞、姚文清、刘芬、沈电洪

  • 起草单位：

    厦门爱劳德光电有限公司、厦门大学化学化工学院

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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