我的标准 开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

AI 搜
标准详细信息 去购物车结算

【国家标准】 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　细度测定

本网站 发布时间：
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 17473.2-1998

  • 标准名称：

    厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　细度测定

  • 英文名称：

    Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of fineness

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    1998-08-19

  • 实施日期：

    1999-03-01

  • 出版语种：

    中文版

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.040.01

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

    4 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    朱晓云、王昆福

  • 起草单位：

    昆明贵金属研究所

  • 归口单位：

    中国有色金属工业总公司标准计量研究所

  • 提出部门：

    中国有色金属工业总公司

  • 发布部门：

    国家质量技术监督局
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究