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【国家标准】 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准

本网站 发布时间: 2021-12-01
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适用范围:

本文件描述了一种用于优化一般分析目的的飞行时间二次离子质谱(SIMS)仪器的质量校准准确度的方法。本文件仅适用于飞行时间仪器,但并不限于任何特定的仪器设计。本文件提供了对一些仪器参数优化的指导,这些参数能使用此程序进行优化,还提供了适用于校准质量标以获得最佳质量准确度的一般峰的类型。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 40129-2021

  • 标准名称:

    表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准

  • 英文名称:

    Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2021-05-21
  • 实施日期:

    2021-12-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    71.040.40
  • 中标分类号:

    G04

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    《表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    20 页
  • 字数:

    28 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    陈建 谢方艳 龚力 杨慕紫 杨皓 张浩 张卫红
  • 起草单位:

    中山大学
  • 归口单位:

    全国微束标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 提出部门:

    全国微束标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 推荐标准
  • 国家标准计划