【国家标准】太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

本网站发布时间： 2014-11-14

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标准简介

本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品，则需相关各方协商同意。

标准号：
GB/T 30860-2014
标准名称：
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
英文名称：
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
标准状态：
现行
发布日期：
2014-07-24
实施日期：
2015-04-01
出版语种：
中文简体

起草人：
徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰、杨素心、蒋建国、王丽华、薛抗美、黄黎
起草单位：
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
提出部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

【国家标准】 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法