【国家标准】微束分析　扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法

本网站发布时间： 2025-09-25

GB/T 20726-2025
即将实施
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标准简介

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适用范围：

本文件规定了以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪最重要的特性参数。
本文件仅适用于使用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。
本文件规定了与扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)联用的此类能谱仪性能参数的最低要求及核查方法。用于能谱分析的程序,已由ISO 22309[2]和ASTM E1508[3]规范,不在本文件范围之内。

基本信息

标准号：
GB/T 20726-2025
标准名称：
微束分析　扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法
英文名称：
Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS)for use with a scanning electron microscope (SEM)or an electron probe microanalyser(EPMA)
标准状态：
即将实施
发布日期：
2025-08-29
实施日期：
2026-03-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.99
中标分类号：
N33

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《微束分析　扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
20 页
字数：
23 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
毛骞、范光、王岩华、曾荣树、原江燕
起草单位：
中国科学院地质与地球物理研究所、核工业北京地质研究院、中国科学院化学研究所
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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