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【国家标准】 微束分析　金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

本网站 发布时间： 2026-03-03
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适用范围：

本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。
本文件适用于25 nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。
注:实际可测量的最小厚度受扫描电镜的图像分辨率、放大倍数等设备性能参数以及试样制备技术、导电性等影响。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 17722-2026

  • 标准名称：

    微束分析　金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

  • 英文名称：

    Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM

  • 标准状态：

    即将实施

  • 发布日期：

    2026-01-28

  • 实施日期：

    2026-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    37.020

  • 中标分类号：

    N33

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    23 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    娄艳芝、柳得橹、王岩华、陈振宇、周剑雄

  • 起草单位：

    中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、中国科学院化学研究所、中国地质科学院矿产资源研究所

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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