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【国家标准】 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法

本网站 发布时间： 2014-09-24
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适用范围：

本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量，分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下，本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 30869-2014

  • 标准名称：

    太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法

  • 英文名称：

    Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2014-07-24

  • 实施日期：

    2015-02-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.040

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    12 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓

  • 起草单位：

    东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)

  • 提出部门：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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