- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L56 >>
- GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准号:
GB/T 15136-1994
标准名称:
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
英文名称:
General principles of measuring methods for quartz clock and watch circuits of semiconductor integrated circuits标准状态:
废止-
发布日期:
1994-06-25 -
实施日期:
1995-02-01 出版语种:
中文简体
- 其它标准
- 推荐标准
- 国家标准计划
- GB/T 43455-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核质量评测
- GB/T 43536.2-2023 三维集成电路 第2部分:微间距叠层芯片的校准要求
- GB/T 43452-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项要求
- GB/T 43453-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核文档结构指南
- GB/T 43454-2023 集成电路知识产权(IP)核设计要求
- GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
- GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义
- GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
- GB/T 43034.3-2023 集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分:非同步瞬态注入法
- GB/T 20870.5-2023 半导体器件 第16-5部分:微波集成电路 振荡器
- GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
- GB/T 20870.10-2023 半导体器件 第16-10部分:单片微波集成电路技术可接收程序
- GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
- GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法
- GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器