- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- H21 >>
- GB/T 8753.2-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法
【国家标准】 铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法
本网站 发布时间:
2017-12-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准号:
GB/T 8753.2-2005
标准名称:
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法
英文名称:
Anodizing of aluminium and aluminium alloys—Assessment of quality of sealed anodic oxide coatings—Part 2:Phosphoric acid/chromic acid test with nitric acid predip标准状态:
被代替-
发布日期:
2005-07-04 -
实施日期:
2005-12-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- 国家标准计划
- GB/T 43315-2023 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法
- GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
- GB/T 23365-2023 钴酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
- GB/T 43092-2023 锂离子电池正极材料电化学性能测试 高温性能测试方法
- GB/T 43096-2023 金属粉末 稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积
- GB/T 43093-2023 镍锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
- GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法
- GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
- GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法
- GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法
- GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
- GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
- GB/T 42544-2023 铝及铝合金阳极氧化膜及有机聚合物膜的腐蚀评定 栅格法