【国家标准】微束分析　分析电子显微术　电子能量损失谱能量分辨率的测定方法

本网站发布时间： 2025-09-25

开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！查看详情>>

标准简介

本文件描述了配备电子能量损失谱仪(简称“能损谱仪”,EELS)的透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)中电子能量损失谱(简称“能损谱”)能量分辨率的测定程序。
本文件适用于内置型和后置型的EELS,包括采用并行检测系统和串行检测系统的谱仪。

标准号：
GB/T 46223-2025
标准名称：
微束分析　分析电子显微术　电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
英文名称：
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis
标准状态：
即将实施
发布日期：
2025-08-29
实施日期：
2026-03-01
出版语种：
中文简体

【国家标准】 微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法