【国家标准】微束分析　电子背散射衍射　平均晶粒尺寸的测定

本网站发布时间： 2021-02-01

GB/T 38532-2020
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1：使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2：该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
注3：对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。

基本信息

标准号：
GB/T 38532-2020
标准名称：
微束分析　电子背散射衍射　平均晶粒尺寸的测定
英文名称：
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
标准状态：
现行
发布日期：
2020-03-06
实施日期：
2021-02-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.40
中标分类号：
G04

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《微束分析　电子背散射衍射　平均晶粒尺寸的测定》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
24 页
字数：
37 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
姚雷、张作贵、曾毅、郑芳
起草单位：
中国宝武钢铁集团中央研究院、上海发电设备成套设计研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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