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【国家标准】 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

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适用范围：

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基本信息

  • 标准号：

    GB/T 4326-1984

  • 标准名称：

    非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

  • 英文名称：

    Extrinsic semiconductor single crystals—measurement of Hall mobility and Hall coefficient

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    1984-04-12

  • 实施日期：

    1985-03-01

  • 出版语种：

    中文版

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.040.30

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    21 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    冯仪

  • 起草单位：

  • 归口单位：

  • 提出部门：

    中华人民共和国冶金工业部

  • 发布部门：

    国家标准局
  • 其它标准
  • 推荐标准

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