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【国家标准】 X射线光电子能谱仪检定方法

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适用范围：

本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

读者对象：

使用X射线光电子能谱仪进行检定实验的实验室、检验机构以及相关光电产品的生产企业的研究人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 25184-2010

  • 标准名称：

    X射线光电子能谱仪检定方法

  • 英文名称：

    Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2010-09-26

  • 实施日期：

    2011-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.40

  • 中标分类号：

    G04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    28 页

  • 字数：

    44 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    王水菊、时海燕、丁训民

  • 起草单位：

    福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会

  • 提出部门：

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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