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【国家标准】 表面化学分析　X射线光电子能谱　荷电控制和荷电校正方法的报告

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适用范围：

本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

读者对象：

相关分析实验室的检测、鉴定人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 25185-2010

  • 标准名称：

    表面化学分析　X射线光电子能谱　荷电控制和荷电校正方法的报告

  • 英文名称：

    Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2010-09-26

  • 实施日期：

    2011-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.40

  • 中标分类号：

    G04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《表面化学分析　X射线光电子能谱　荷电控制和荷电校正方法的报告》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    23 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    吴正龙

  • 起草单位：

    北京师范大学分析测试中心

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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