【国家标准】表面化学分析　X射线光电子能谱　荷电控制和荷电校正方法的报告

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标准简介

本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

标准号：
GB/T 25185-2010
标准名称：
表面化学分析　X射线光电子能谱　荷电控制和荷电校正方法的报告
英文名称：
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态：
现行
发布日期：
2010-09-26
实施日期：
2011-08-01
出版语种：
中文简体

【国家标准】 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告