【国家标准】集成电路　电磁抗扰度测量　第8部分：辐射抗扰度测量　IC带状线法

本网站发布时间： 2024-01-02

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标准简介

本文件描述了集成电路（IC）对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。

标准号：
GB/T 42968.8-2023
标准名称：
集成电路　电磁抗扰度测量　第8部分：辐射抗扰度测量　IC带状线法
英文名称：
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8:Measurement of radiated immunity—IC stripline method
标准状态：
现行
发布日期：
2023-09-07
实施日期：
2024-01-01
出版语种：
中文简体

起草人：
付君、崔强、方文啸、刘小军、吴建飞、乔彦彬、郑益民、叶畅、杨红波、李楠、刘星汛、梁吉明、白云、张艳艳、朱赛、靳冬、刘佳、陈燕宁、邵鄂、周香、黄雪梅、郑泓、李德鹏、吕飞燕、刘易勇、贺伟、陈勇志、陈梅双
起草单位：
中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想(北京)有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

【国家标准】 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法