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GB/T 28015-2011 家用卫生杀虫用品 烟尘量试验方法 现行 发布日期 :  2011-10-31 实施日期 :  2012-02-01

本标准规定了家用卫生杀虫用品的烟尘量试验方法。
本标准适用于固态燃香及烟制剂产品。

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本文件规定了应用电子探针显微分析仪或者安装在扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
本文件还包括如下内容:
——定量分析原理;
——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;
——仪器的一般要求;
——有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。
本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。

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GB/T 28723-2012 固体有机化学品纯度的测定 差示扫描量热法 现行 发布日期 :  2012-09-03 实施日期 :  2013-02-01

本标准规定了固体有机化学品纯度测定的差示扫描量热法。
本标准适用于具有明确熔点的热稳定固体有机化学品的纯度测定,其给出的是试样中杂质的总含量,而不能得出单一杂质的含量。

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GB/T 28724-2012 固体有机化学品熔点的测定 差示扫描量热法 现行 发布日期 :  2012-09-03 实施日期 :  2013-02-01

本标准规定了差示扫描量热法测定熔点的原理、仪器设备、分析步骤、试验报告及精度。
本标准适用于具有明确熔点的热稳定性有机化学品的熔点测定。

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本文件规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息,也提供了峰强度测量方法和导出的峰面积不确定度的信息。

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本文件描述了用于测量扫描电容显微镜(scanning capacitance microscope,SCM)或扫描扩展电阻显微镜(scanning spreading resistance microscope,SSRM)空间(横向)分辨的方法,该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。

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GB/T 4472-2011 化工产品密度、相对密度的测定 现行 发布日期 :  2011-12-30 实施日期 :  2012-10-01

本标准规定了化工产品密度和相对密度测定的术语和定义,固体、液体和气体化工产品的密度和相对密度测定的方法。
本标准适用于一般化工产品密度和相对密度的测定。
本标准不适用于炭黑、开孔式泡沫橡胶或塑料等特殊状态的化工产品密度、相对密度的测定。

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本文件规定了用于透射电子显微镜观察聚合物复合材料的超薄切片样品制备方法及技术规范。
本文件适用于常温或冷冻条件下能进行超薄切片的聚合物复合材料制样。

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本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中,通过测量基于聚四氟乙烯(PTFE)质谱中的同位素比值,从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法,强度的非线性是由在死时间内到达微通道板(MCP)或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器(TDC)的二次离子强度损失引起的。该校正可将95%线性的强度范围增加到50倍以上,因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪,可以采用更高的最大计数率。

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本文件规定了用于表征AFM探针形状,特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上,或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中,后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针,其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。

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本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)分析中,由X射线辐照导致试样元素组成或化学态的非预期性损伤的识别、评估和校正方法的要求。
本文件仅适用于X射线引起的非预期性损伤,导致光电子谱峰强度的降低或增加小于30%。本文件不涉及不同类型材料之间的比较,也不涉及发生损伤的机制、深度或化学性质。

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本文件描述了对材料薄膜进行协助表面分析的方法,这些薄膜不含有碳化合物作为预期成分,但在全扫描谱中观察到C 1s峰。这些薄膜可通过有氧或电化学氧化在金属和合金上生成,也可沉积在惰性基底上的。所述程序不适用于在基底上颗粒的不连续沉积。除此之外,还提供了一个可从含碳的表面污染物中识别C 1s信号的简单程序。当C 1s峰被确定为来自于外来的覆盖层时,从全谱中得出的成分可针对其影响进行校正。建议的程序以“如果-则”格式的简单规则结构形式所提供,目的是让它们所包含的信息可被数据系统中的自动化程序所利用。所提供的规则仅利用从XPS全扫描(谱)中检索的信息。

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GB/T 46057-2025 微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法 现行 发布日期 :  2025-08-29 实施日期 :  2026-03-01

本文件规定了基于模型数据库(MBL)方法通过测长扫描电子显微镜(CD-SEM)成像来测定晶圆和光掩膜的关键尺寸(CD)值所需的结构模型、相关参数、文件格式和拟合程序。
本文件适用于试样的线宽测定,如晶圆上的栅极、光掩膜、单个孤立或密集排列的线特征图案,最小达10 nm。

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本标准规定了用扫描电子显微镜及能谱仪对沉积岩自生粘土矿物的晶体形态及化学成分进行鉴定的方法。
本标准主要用于石油、天然气沉积岩中常见自生粘土矿物鉴定分析。其他自生粘土矿物鉴定分析可参照执行。

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本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测量方法。
本标准适用于俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器的检测。

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