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GB/T 2523-2022 冷轧金属薄板和薄带表面粗糙度、峰值数和波纹度测量方法 现行 发布日期 :  2022-07-11 实施日期 :  2023-02-01

本文件规定了冷轧金属薄板和薄带表面粗糙度、峰值数和波纹度的原理、试样、测量要求、测量程序、测量结果数值的修约和测试报告。本文件适用于冷轧金属薄板和薄带表面粗糙度、峰值数和波纹度的测量。也适用于具有表面金属镀层的冷轧金属薄板和薄带。

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本标准规定了无应变、无外加磁场条件下铜(Cu)、铜-镍(Cu-Ni)、铜/铜-镍(Cu/Cu-Ni)基体和铝(Al)基体的铌-钛(Nb-Ti)和铌三锡(Nb3Sn)复合超导体剩余电阻比(RRR)的测试方法。本标准适用于剩余电阻比值低于350、横截面小于3 mm2、具有矩形或圆形横截面的一体化超导体的剩余电阻比的测量。对于Nb3Sn复合超导体,样品经反应热处理。

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本标准规定了单晶和铸造多晶的硅片及硅锭的载流子复合寿命的非接触微波反射光电导衰减测试方法。本标准适用于硅锭和经过抛光处理的n型或p型硅片(当硅片厚度大于1 mm时,通常称为硅块)载流子复合寿命的测试。在电导率检测系统灵敏度足够的条件下,本标准也可用于测试切割或经过研磨、腐蚀的硅片的载流子复合寿命。通常,被测样品的室温电阻率下限在0.05 Ω·cm~10 Ω·cm之间,由检测系统灵敏度的极限确定。载流子复合寿命的测试范围为大于0.1 μs,可测的最短寿命值取决于光源的关断特性及衰减信号测定器的采样频率,最长可测值取决于样品的几何条件及其表面的钝化程度。

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GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法 现行 发布日期 :  2014-12-31 实施日期 :  2015-09-01

本标准规定了利用高分辨X射线衍射仪测试Ⅲ族氮化物外延片结晶质量的方法。
本标准适用于在氧化物衬底(Al2O3、ZnO等)或半导体衬底(GaN、Si、GaAs、SiC等)上外延生长的氮化物(Ga、In、Al)N单层或多层异质外延片结晶质量的测试。其他异质外延片结晶质量的测试也可参考本标准。

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GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法 现行 发布日期 :  2014-12-31 实施日期 :  2015-09-01

本标准规定了利用高分辨X射线衍射测试Ⅲ族氮化物外延片晶格常数的方法。
本标准适用于在氧化物衬底(Al2O3、ZnO等)或半导体衬底(GaN、Si、GaAs、SiC等)上外延生长的氮化物(Ga, In, Al)N单层或多层异质外延片晶格常数的测量。其他异质外延片晶格常数的测量也可参考本标准。

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GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 现行 发布日期 :  2014-07-24 实施日期 :  2015-04-01

本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。
本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。

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GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化 测试方法 现行 发布日期 :  2014-07-24 实施日期 :  2015-02-01

本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。

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GB/T 31353-2014 蓝宝石衬底片弯曲度测试方法 现行 发布日期 :  2014-12-31 实施日期 :  2015-09-01

本标准规定了蓝宝石切割片、研磨片、抛光片(以下简称蓝宝石衬底片)弯曲度的测试方法。
本标准适用于直径50.8 mm~304.8 mm,厚度为不小于200 μm的蓝宝石衬底片弯曲度的测试。

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GB/T 31474-2015 电子装联高质量内部互连用助焊剂 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本标准规定了电子装联用高质量内部互连用助焊剂(简称助焊剂)的分类、技术要求、试验方法、检测规则和产品的标识、包装、运输、储存。
本标准主要适用于印制板组装及电气和电子电路接点锡焊用助焊剂。

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GB/T 31527-2015 力学性能测量 NbTi/Cu复合超导线室温拉伸试验方法 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2015-12-01

本标准规定了NbTi/Cu复合超导线室温拉伸试验方法。
本试验方法用以测量弹性模量,规定塑性延伸强度(由复合体中Cu的屈服而产生的)和抗拉强度。
断后伸长率和由组分中NbTi屈服定义的第二类规定塑性延伸强度仅作参考(见A.1和A.2)。
本标准适用于测试横截面积在0.15 mm2~2 mm2,铜超比在1.0~8.0之间的圆形或矩形截面的无绝缘覆层试样。

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GB/T 31780-2015 临界温度测量 电阻法测复合超导体临界温度 现行 发布日期 :  2015-07-03 实施日期 :  2016-02-01

本标准规定了工业用的电阻测定复合超导体临界温度的测量方法。
本标准适用于一体化结构的圆形、扁平或方形截面的单芯或多芯复合超导体,包括Cu/NbTi、Cu/CuNi/NbTi和CuNi/NbTi复合超导体,Cu/Nb3Sn和Cu/Nb3Al复合超导体,以及金属包套的MgB2复合超导体,金属为稳定体的Bi系氧化物超导体,Y系或稀土金属基涂层导体。

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GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 现行 发布日期 :  2015-12-10 实施日期 :  2016-11-01

本标准规定了用阴极荧光显微镜法测试氮化镓单晶位错密度的方法。
本标准适用于位错密度在1×103个/cm2~5×108个/cm2之间的氮化镓单晶中位错密度的测试。

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GB/T 3249-2022 金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法 现行 发布日期 :  2022-03-09 实施日期 :  2022-10-01

本文件规定了金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法。
本文件适用于粉末粒度为0.5 μm~50 μm的金属及其化合物(碳化物、氮化物和氧化物等)粉末费氏粒度的测定。
本文件不适用于轴对称性差、不规则形状(如薄片状和纤维状等)的粉末颗粒,也不适用于不同粉末的混合物以及含有粘接剂或润滑剂的粉末。如需采用,由相关方协商后采用。

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GB/T 32791-2016 铜及铜合金导电率涡流测试方法 现行 发布日期 :  2016-08-29 实施日期 :  2017-07-01

本标准规定了涡流法测试铜及铜合金导电率的方法原理、术语和定义、测试要求、操作方法和测试报告。
本标准适用于用涡流导电仪对不含铁磁性的铜及铜合金材料或产品进行导电率测试。

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GB/T 33908-2017 铝电解质初晶温度测定技术规范 现行 发布日期 :  2017-07-12 实施日期 :  2018-06-01

本标准规定了电解质初晶温度测定的基本要求和测定过程中熔样的速度、初晶温度拐点的识别以及冷却速度等技术要求。本标准适用于采用步冷曲线法测定铝电解质的初晶温度。测定范围为800 ℃~1 000 ℃。

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