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本文件描述了小型电感器的直流额定电流的测量方法。
用户可通过规范的额定电流测量方法比较不同制造厂手册中的额定电流。
本文件适用于尺寸符合IEC 62025-1且额定电流一般小于22 A的引线型和表面安装电感器,也适用于尺寸符合IEC 62025-1要求但额定电流超过22 A的部分电感器(安装面积不超过12 mm×12 mm)额定电流的测量。通常这些电感器应用于电子、电信设备和小尺寸开关电源模块中PCB板上的DC-DC变换器。
本文件仅适用于直流电流条件下饱和电流和温升电流的测量。

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本文件规定了高励磁水平下工作的电感器、扼流圈、变压器和其他有功率要求的电子器件等用的闭路磁心的功耗和振幅磁导率的测量方法。
本文件给出的测量方法如量热法和反射法能实现磁性能的测量频率范围从直流(d.c.)到10 MHz,甚至更高。对于给定频率范围的磁特性测量,选用哪种测量方法取决于需要达到的准确度。
本文件中的测量方法基于通常的正弦波励磁情况,对其他周期性波形也适用。但是,只有在相应的频谱范围内磁通密度和磁场强度波形准确度只有轻微降低的情况下,所用的测量电路和仪器能够控制幅度和相位,才能获得足够的准确度。

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GB/T 12113-2023 接触电流和保护导体电流的测量方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件描述了下述电流的测量方法:--流过人体的直流电流或者正弦波形或非正弦波形的交流电流,和--流过保护导体的电流。推荐的接触电流的测量方法是以流经人体的电流可能引起的效应为基础的。在本文件中,对流经测量网络(代表人体阻抗)的电流的测量指的就是接触电流的测量。这些网络对于动物并不一定有效。具体限值的规范和含义不在本文件范围内,IEC 60479(所有部分)提供了电流通过人体的效应的有关信息,根据该信息就可确定出电流的限值。本文件适用于IEC 61140所定义的各类设备。本文件中的测量方法不考虑在以下情况下使用:--持续时间小于1 s的接触电流;--在IEC 606011中规定的患者电流;--频率低于15 Hz的交流电;--超过所选择的电灼伤限值的电流。本基础安全标准主要是提供给技术委员会在按IEC Guide 104和ISO/IEC Guide 51制定标准时使用。制造商或认证机构不能将本文件独立于产品标准使用。技术委员会在制定标准时要使用基础安全标准。本文件的试验方法和试验条件的要求仅在相关标准中专门引用或规定时适用。

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本文件描述了压电、介电和静电振荡器,包括使用介电谐振器的振荡器(DRO)和使用薄膜体声波谐振器(FBAR)的振荡器的相位抖动测量方法,给出了关于相位抖动测量的指南,以精确地测量均方根抖动。
本测量方法采用相位噪声测量设备或相位噪声测量系统。
注1: 介电振荡器(DRO)和FBAR振荡器的测量在考虑中。
注2: 在不引起混淆的情况下,本文件中的“压电、介电和静电振荡器”简称为“振荡器”。

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GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件定义了集成电路(IC)传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息,描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。附录A中给出了试验方法的对照表,帮助选择适当的测量方法。

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本文件规定了集成电路(IC)对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。与受试器件(DUT)运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。不管电瞬态骚扰是否在IC规定的工作电压范围之内,本方法都能够得到传导电瞬态骚扰和其引起的IC性能降级之间的相互关系并对其进行分类。

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本文件描述了集成电路(IC)对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。

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本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 604445的π型网络为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 604445或IEC 604448的π型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。注: 本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型,也适用于其他晶体切型和振动模式,如双转角切型和振动模式(IT,SC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。

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GB/T 43023-2023 射频声表面波(SAW)器件和体声波(BAW)器件的非线性测量指南 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件规定了通信、测量仪器、雷达系统及消费电子产品等用射频(RF)声表面波(SAW)器件和体声波(BAW)器件(如滤波器、双工器等)的非线性信号的测量方法。
本文件包括非线性的基本特性及测量指南,适用于射频SAW/BAW器件测量系统的建立及相应测量程序的制定。
本文件的目的不是解释理论,也不是试图覆盖实际环境中出现的所有可能情况,是要让用户在为新应用订购射频SAW/BAW器件前注意到某些更基本的问题,以保证用户得到满意的器件性能。

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本文件规定了紧缩场场地性能确认方法,包括一般要求、测量系统、测量方法、试验报告以及安全防护要求等。本文件适用于工作频率范围为0.6 GHz~110 GHz的紧缩场场地性能的确认,其他频率范围参照使用。

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本文件规定了与低压供电网连接的电气和电子设备对电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验方法和优选的试验等级范围。本文件适用于额定输入电流每相小于或等于16 A且连接到50 Hz交流网络的电气和电子设备。本文件不适用于与400 Hz交流网络相连接的电气和电子设备。这些网络的试验将在以后的标准中涉及。本文件的目的是建立一种评价电气和电子设备在经受电压暂降、短时中断和电压变化时的抗扰度通用准则。〓〓

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本文件描述了高功率电磁瞬态响应参数测量的基本方法和主要设备。主要的响应参数包括以下内容:
——电场(E)和磁场(H)(例如:待测试系统的入射场或入射场与散射场的叠加场);
——电流I(例如:瞬态场感应的或待测系统内的);
——电压U(例如:瞬态场感应的或待测系统内的);
——在电缆或其他导体上的感应电荷Q。
注: 导体上的电荷Q是在任意频率下具有确定意义的一个基本量。然而,电压U是一个仅在低频情况下具有确定意义的(从属的)量。在高频情况下,电压不能由电场的线积分确定,因为这一积分依赖于路径。这样,对于上升沿很快的脉冲(具有大量的高频分量),采用电压作为测量量是不合适的,在这种情况下,需测量电荷量。
这些被测量通常是一些可以用标量参数或“可测参数”来近似描述的复杂时变波形,这些参数包括:
——响应的峰值;
——波形的上升时间;
——波形的下降时间(或持续时间);
——脉冲宽度;
——数学意义上由波形得到的范数。
本文件提供了这些波形的测量方法和特征参数的信息,但没有提供有关测量具体等级要求的信息。

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GB/T 42750-2023 可穿戴设备的光辐射安全测量方法 现行 发布日期 :  2023-05-23 实施日期 :  2023-12-01

本文件描述了可穿戴设备的光辐射安全测量方法,包括测量条件、测量设备及测量步骤等。本文件适用于发射波长为200 nm~3 000 nm非相干光的可穿戴设备的测量。

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GB/T 42566-2023 系统与软件工程 功能规模测量 MkⅡ功能点分析方法 现行 发布日期 :  2023-05-23 实施日期 :  2023-12-01

本文件规定了MkⅡ功能点分析方法的使用规则、测量过程、一般要求、特定场景测量要求、规模调整方法以及工作量估算方法。MkⅡ功能点分析方法是一种有助于测量过程效率和管理应用软件开发、增强或维护活动成本的方法。它独立于软件的技术特征测量软件产品规模,只与用户相关。它可以:
——在软件开发过程的早期应用;
——在软件生存周期中可以一致的持续应用;
——通过业务来解释,并可以被使用软件的用户所理解。
本文件适用于任何从逻辑事务角度描述的软件应用程序的功能规模测量,其中每个逻辑事务包括输入、处理和输出部件。MkⅡ的测量规则适用于来自业务信息系统领域的应用软件,该领域每个逻辑事务处理部件主要负责数据的存储或检索。MkⅡ可能也适用于其他领域的软件,但需注意:其测量规则不考虑科学工程软件中常见的复杂算法的规模,也没有特别考虑实时性要求。其他领域也是有可能使用MkⅡ功能点分析方法的,但可能要对本文件中给出的规则进行扩展或作出新的解释。MkⅡ功能点分析方法可用于测量如下规模:
——新应用程序或现有应用程序变更的需求规格或功能规格;
——现有运行的应用程序的需求,无论是定制的,或者完整的业务软件解决方案,无论是批量的、或是在线实施的。
无论是直接使用,还是与工作量、缺陷数量等其他测量方法结合,MkⅡ功能点分析可用于达到各种测量目的,包括:
——测量项目或组织绩效(生产率、交付率和质量);
——比较内部和外部IT性能;
——比较应用程序的质量和可靠性;
——比较不同平台上应用程序的标准化开发、维护和支持成本;
——估算项目的资源需求、工期和成本;
——协助评估新项目的业务用例的成本和风险要素;
——在开发应用程序之前,协

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GB/T 42588-2023 系统与软件工程 功能规模测量 NESMA方法 现行 发布日期 :  2023-05-23 实施日期 :  2023-12-01

本文件规定了应用NESMA功能点分析方法(FPA)的定义、规则和指南的集合。

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