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本文件给出了在数据表、分析证书、涉及制备用于表面化学分析时纳米物体处理的报告或其他出版物中应报告的信息。这些信息对于确保促进应用这些材料的研究和技术所需的分析可靠性和再现性是必需的,并获得对可能的纳米物体环境和生物影响的恰当理解。这些信息除了其他与样品的合成、加工历史及表征有关的详细资料外,并宜成为有关材料来源和其自产生以来发生的变化的数据记录(有时被确认为源信息)的一部分。
本文件包括了资料性附录。附录总结了与纳米物体相关的挑战性问题,强调了需要在材料数据记录中加强文件化和报告(见附录A),并提供了通常从用于表面化学分析的溶液中提取颗粒的方法示例(见附录B)。相关样品数据的示例集展示于附录C。
本文件未规定确保所描述的分析测量得到恰当实施所需的仪器类型或操作程序。

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本文件规定了如何报告X射线光电子能谱的峰拟合及其结果。本文件适用于单个谱图或一组相关谱图的拟合,例如在深度剖析测试中采集获得的一组相关谱图。本文件提供了一个应报告的参数列表,以实现可重复的峰拟合或对多个谱进行拟合与比较。本文件不提供峰拟合的操作说明,也不提供应采用的拟合步骤。

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GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 现行 发布日期 :  2018-06-07 实施日期 :  2019-05-01

本标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量,以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。

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本标准规定了分析者使用X射线光电子能谱(XPS)分析试样后应报告信息的最低要求。包括原始记录和分析记录的信息。

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本标准规定了在电子激发绝缘样品的俄歇电子能谱测量中,描述荷电控制方法所需的最少信息,该信息也一并报告在分析结果中。参见附录A提供的现有的AES分析前或分析期间荷电控制的有用方法。表A.1对各种方法和途径进行了总结,并依方法的简单性排列。表A.1中的一些方法对大多数仪器是可用的,一部分则需要特殊的硬件,还有部分可能涉及样品的重装或变动。

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本标准规定了分析者使用俄歇电子能谱(AES)分析试样后随即应报告信息的最低要求,包括原始记录和分析记录的信息。

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本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。

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本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

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GB/T 13565-1992 肥料采样报告格式 现行 发布日期 :  1992-07-09 实施日期 :  1993-06-01

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本文件规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息,也提供了峰强度测量方法和导出的峰面积不确定度的信息。

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