本文件描述了分析人员利用全反射X射线荧光(TXRF)仪器开展水样测量的化学方法。根据良好的操作实践,本方法具有确定的准确度和精密度。本文件适用于开展大量样品常规分析且按照ISO/IEC 170251)运作的实验室。
本文件描述了水(例如,饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰,按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。
本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。
测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水,大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间,取决于测量元素和预先设定的要求。
附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。
大多数元素的定量限会受到空白污染的影响,且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。
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本文件提供了对电子探针显微分析仪(EPMA)进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序,确认仪器状态正常,或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。
本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作(例如峰干扰)的能力,有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。
本文件适用于电子探针和其他波谱仪(WDS)系统,该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪(EDS)进行的元素分析。
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