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【国家标准】 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法　颗粒动态光电投影法

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适用范围：

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。
本标准适用于4 μm~300 μm的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 37406-2019

  • 标准名称：

    电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法　颗粒动态光电投影法

  • 英文名称：

    Detection method of degree of sphericity of spherical silica for electronic packaging—Particle dynamic photoelectric projection method

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2019-05-10

  • 实施日期：

    2019-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.030

  • 中标分类号：

    L90

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

    10 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪、姜兵、封丽娟、李冰、陈进、夏永生、戴春明、马涛

  • 起草单位：

    江苏联瑞新材料股份有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子(连云港)有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)

  • 提出部门：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准

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