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【国家标准】 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法

本网站 发布时间: 2019-12-02
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适用范围:

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。
本标准适用于4 μm~300 μm的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 37406-2019

  • 标准名称:

    电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法

  • 英文名称:

    Detection method of degree of sphericity of spherical silica for electronic packaging—Particle dynamic photoelectric projection method
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2019-05-10
  • 实施日期:

    2019-12-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.030
  • 中标分类号:

    L90

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

    8 页
  • 字数:

    10 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    曹家凯 吕福发 阮建军 王松宪 姜兵 封丽娟 李冰 陈进 夏永生 戴春明 马涛
  • 起草单位:

    江苏联瑞新材料股份有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子(连云港)有限公司
  • 归口单位:

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
  • 提出部门:

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
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