【国家标准】非本征半导体材料导电类型测试方法

本网站发布时间： 2019-11-01

GB/T 1550-2018
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。
本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。

基本信息

标准号：
GB/T 1550-2018
标准名称：
非本征半导体材料导电类型测试方法
英文名称：
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
标准状态：
现行
发布日期：
2018-12-28
实施日期：
2019-11-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
77.040
中标分类号：
H21

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
16 页
字数：
24 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
梁洪王莹赵晓斌高英王昕王飞尧黄黎徐红骞邱艳梅刘晓霞杨旭张园园刘新军徐远志程小娟潘金平肖宗杰
起草单位：
乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、广州市昆德科技有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、浙江海纳半导体有限公司、新特能源股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、峨嵋半导体材料研究所、洛阳中硅高科技有限公司、中锗科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)
提出部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)
发布部门：
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

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