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【国家标准】 非本征半导体材料导电类型测试方法

本网站 发布时间： 2019-11-01
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适用范围：

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。
本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 1550-2018

  • 标准名称：

    非本征半导体材料导电类型测试方法

  • 英文名称：

    Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2018-12-28

  • 实施日期：

    2019-11-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.040

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    24 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    梁洪、王莹、赵晓斌、高英、王昕、王飞尧、黄黎、徐红骞、邱艳梅、刘晓霞、杨旭、张园园、刘新军、徐远志、程小娟、潘金平、肖宗杰

  • 起草单位：

    乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、广州市昆德科技有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、浙江海纳半导体有限公司、新特能源股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、峨嵋半导体材料研究所、洛阳中硅高科技有限公司、中锗科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)

  • 提出部门：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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