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【国家标准】 半导体单晶材料透过率测试方法

本网站 发布时间： 2025-12-16
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适用范围：

本文件描述了半导体单晶材料在波长0.2μm~300μm范围内透过率的测量方法。
本文件适用于硅、锗、磷化铟、硒化镉、硫化镉、碳化硅、氮化镓、氧化镓、蓝宝石、金刚石等半导体单晶材料透过率的测定。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 46227-2025

  • 标准名称：

    半导体单晶材料透过率测试方法

  • 英文名称：

    Test method for transmittance of semiconductor single crystal materials

  • 标准状态：

    即将实施

  • 发布日期：

    2025-08-29

  • 实施日期：

    2026-03-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.040

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    13 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    李静、何烜坤、李素青、许蓉、齐海涛、索开南、胡伟、王英明、齐兴旺、欧琳芳、郝文娟、孙雪峰、李明达、王阳、王银海、夏秋良、朱晓彤、张红岩、丁雄杰、佘宗静、匡子登、夏宁、沈益军、吴杰、边仿、孙毅、李欢欢

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、江苏第三代半导体研究院有限公司、松山湖材料实验室、新美光(苏州)半导体科技有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、安徽光智科技有限公司、天通银厦新材料有限公司、广东先导微电子科技有限公司、中电晶华(天津)半导体材料有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、南京盛鑫半导体材料有限公司、山东有研半导体材料有限公司、山东天岳先进科技股份有限公司、广东天域半导体股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司、杭州镓仁半导体有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、甬江实验室微谱(浙江)技术服务有限公司、昆山海菲曼科技集团股份有限公司、河南中宜创芯发展有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)

  • 提出部门：

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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