【国家标准】电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法　XRD法

本网站发布时间： 2019-01-02

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标准简介

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析，0.5%~5%定量分析。

标准号：
GB/T 36655-2018
标准名称：
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法　XRD法
英文名称：
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
标准状态：
现行
发布日期：
2018-09-17
实施日期：
2019-01-01
出版语种：
中文简体

【国家标准】 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法