标准详细信息 去购物车结算

【国家标准】 微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法

本网站 发布时间: 2020-07-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围:

本标准规定了MEMS结构共振疲劳试验的试验方法,包括设备、试验环境、样品要求、试验条件和试验步骤。本标准适用于MEMS结构的共振疲劳试验。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 38447-2020

  • 标准名称:

    微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法

  • 英文名称:

    Micro-electromechanical system technology—Fatigue testing method of MEMS structure using resonant vibration
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2020-03-06
  • 实施日期:

    2020-07-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.200
  • 中标分类号:

    L55

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

    20 页
  • 字数:

    32 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    张威 张亚婷 于振毅 陆学贵 朱悦 石云波 李海斌 程逸轩 周浩楠 陈得民
  • 起草单位:

    北京大学、中机生产力促进中心、北京智芯传感科技有限公司、沈阳国仪检测技术有限公司、浙江博亚精密机械有限公司、中北大学、北京必创科技股份有限公司
  • 归口单位:

    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
  • 提出部门:

    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 推荐标准
  • 国家标准计划