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【国家标准】 集成电路　CMOS图像传感器测试方法

本网站 发布时间： 2024-01-02
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适用范围：

本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分（TDI)CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 43063-2023

  • 标准名称：

    集成电路　CMOS图像传感器测试方法

  • 英文名称：

    Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L55

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    36 页

  • 字数：

    64 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    李俊霖 张涛 兰太吉 杨永强 赵宇 聂真威 韩冰 金辉 马洪涛 卢岩 徐江涛 刘昌举 唐延甫 聂凯明 李金 高志远 马悦 刘国清 王琪 刘秀娟

  • 起草单位：

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司

  • 归口单位：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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